W3 展会暨大会

我们诚邀您莅临 W3 展会暨会议，亲身体验利用白光进行光学 3D 表面表征的无限可能。我们的解决方案涵盖以下内容（包括但不限于）：

• 以高横向分辨率测试光学元件的形状、波纹度和平整度。
• 解析亚纳米级范围内的三维纹理并计算粗糙度参数。
• 同时测量试样（如镜片、滤光片、透镜或棱镜）的顶面和底面，通过单次测量即可获取整个表面的平整度、厚度和平行度数据。

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