手表零部件及精密机械领域的3D地形图

制表师们依赖CSI相干扫描干涉测量技术

手表和钟表零部件的表面质量通过CSI相干扫描干涉仪（也称为白光干涉仪）的测量精度和重复性进行验证。检查手表零部件的几何公差，测量制表工艺中的形状参数，如平整度、平行度或台阶高度。

TopMap 面扫描白光干涉仪可针对微型零件提供快速、全面且高分辨率的测量数据。与其他光学测量技术（例如条纹投影或焦距变化法）相比，TopMap 光学轮廓仪无论在粗糙表面还是光学平滑表面上，均能进行可靠的测量。

Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。

Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量，满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。

Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪，Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置，支持R参数与S参数评估，符合ISO标准。非接触式测量，亚纳米分辨率，可选电动载物台与以旧换新升级保障。