柔性电子器件的3D表征
柔性电子技术在可穿戴设备、薄膜太阳能电池、射频识别（RFID）以及汽车仪表盘或医疗应用中的显示屏等领域开辟了广阔的新应用前景。对于所有这些应用场景而言，产品可靠性都是关键的质量指标。此外，市场对信号处理、通信和能量生成方面组件的协调性需求也在不断增长。
针对此类应用，白光干涉测量技术能够一次性扫描整个混合柔性电子产品的表面。这种光学且无损的测量方法可对印刷电子产品进行表征，包括形状参数、粗糙度及结构细节，从而有助于确保电子产品的质量和功能。
印刷电子产品的形状参数与表面粗糙度
通过扫描表面并评估3D高度信息，可以快速、可靠地表征印刷电子和柔性电子产品。Polytec 提供的3D表面测量解决方案为电子产品质量和印刷电子工艺稳定性均提供了有价值的数据。先进的色彩信息模式有助于识别和定位缺陷。
对于柔性电子产品的在线集成以及半自动化或全自动化制造工艺，TopMap 的传感器头可轻松集成到生产线上，为在线检测提供定制化解决方案。根据需求，用户可以管理和加载预定义的测量设置，通过测量配方在生产层面实现一键式检测。我们的PolyXperts 团队乐于在项目的各个阶段提供协助，例如利用开放式软件架构开发定制化流程和评估方案。
微电子器件的特性分析
装配表面轮廓仪
三维光学轮廓仪
Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。
大视场三维光学轮廓仪
Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量，满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。
表面粗糙度仪
Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪，Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置，支持R参数与S参数评估，符合ISO标准。非接触式测量，亚纳米分辨率，可选电动载物台与以旧换新升级保障。
