可靠测量大功率激光二极管

单次遍历中捕获HPLDs

为了确保大功率激光二极管（HPLD）能够可靠运行，必须检查其外壳是否具有正确的平整度和台阶高度。为此，应采用经过实践验证的技术，该技术不仅能捕捉微小的高度差异，还能快速、可靠地提供测量结果。我们所指的正是Polytec 的表面测量系统。

TopMap 光学三维表面测量系统可在大视场和面测量模式下对激光阵列中的二极管进行表征，直接在半导体器件上分析“微笑”表面曲率及台阶高度。大视场可在单次测量中捕捉所有细节，从而在不牺牲高分辨率的前提下，对激光二极管封装进行便捷、全面且高效的检测。

Micro.View 系列三维光学轮廓仪专为亚纳米级分辨率测量而优化。凭借聚焦光学系统与高垂直分辨率，可对微观结构、表面光洁度及材料分布进行精细分析——在最微小的偏差都可能影响性能的场景中，提供可靠的数据支撑。

Pro.Surf 可对大型工件及多样本料盘进行平面度、台阶高度与平行度检测——非接触、数秒完成。防碰撞远心光学系统可深入深孔内部进行测量，满足生产环节对精度与重复性的严苛要求。

Polytec表面粗糙度测量仪是迈入3D表面计量的入门级光学轮廓仪，Micro.View系列专为触针式用户升级打造。高性价比预配置，支持R参数与S参数评估，符合ISO标准。非接触式测量，亚纳米分辨率，可选电动载物台与以旧换新升级保障。